過去の研究会

1998(H10)年1999(H11)年2000(H12)年2001(H13)年2002(H14)年2003(H15)年2004(H16)年2005(H17)年2006(H18)年2007(H19)年2008(H20)年2009(H21)年2010(H22)年2011(H23)年2012(H24)年2013(H25)年2014(H26)年2015(H27)年2016(H28)年2017(H29)年

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86

講師の敬称は省略

第86回研究会「単一分子および分子二次元ネットワークの構造と物性」

日時:2017年7月20日(木)
場所:東京工業大学田町キャンパスイノベーションセンター

  • 「SERSとI-Vの同時計測による金属—分子局所界面構造の解析」木口 学(東工大院理工)
  • 「二次元metal-organic frameworkを利用したvan der Waals力の精密測定」川井 茂樹 (NIMS)
  • 「STM発光分光を用いた分子間エネルギー移動の単分子レベル計測」金 有洙 (理研)
  • 「サブ10 nmスケールのナノギャップ電極を用いた分子デバイス」真島 豊 (東工大フロンティア材料研)
  • 「単一分子と組織化分子ネットワークの非線型伝導理論」浅井 美博 (産総研)
  • 「有機導電性ポリマーの2次元超薄膜におけるクーロンブロッケイド伝導」赤井 恵 (阪大院工)

第85回研究会「ナノプローブテクノロジーを利用した摩擦の研究 -エネルギー散逸と摩擦の制御について-」

日時:2017年4月11日(火)
場所:産業技術総合研究所 臨海副都心センター 別館11階会議室 11205室

  • 「摩擦の散逸エネルギーのフォノン分散曲線」三浦浩二(愛知教育大学)
  • 「ナノスケール摩擦の素過程、エネルギー散逸」佐々木成朗(電気通信大学)
  • 「摩擦界面のフォノンエネルギー散逸」梶田晴司(豊田中央研究所)
  • 「ナノ厚さ液体膜を介した摺動における摩擦の計測」福澤健二(名古屋大学)
  • 「探針試料間弾性力ベクトルの3次元マッピング」内藤賀公(大阪大学)
  • 「周波数変調原子間力顕微鏡(FM-AFM)を 利用した潤滑界面の直接観察手法と今後の展開」粉川良平(島津製作所)

第84回研究会「光誘起計測制御技術の最前線」

日時:2016年11月15日
場所:東京大学(駒場)

  • 「電気力顕微鏡ロードマップ」山田啓文(京都大学)中村雅一(奈良先端科学技術大学院大学)
  • 「有機分子のキラリティーとSTM発光」桑原裕司(大阪大学)
  • 「フェムト秒時間分解STMによる光誘起ダイナミックスのナノスケール分光」重川秀実(筑波大学)
  • 「近接場顕微鏡の新たな潮流:先端増強ラマン散乱(TERS)顕微鏡と深紫外域への展開」河田聡(大阪大学)
  • 「相変化マスクを用いた近赤外顕微イメージング分光法」斎木敏治(慶応義塾大学)

第83回研究会「二次元層状物質・電位計測」

日時:2016年7月19-20日
場所:東京工業大学(田町)

7月19日(火)

  • 「2次元層状物質の合成及びデバイスの現状と未来展望」上野啓司(埼玉大学)
  • 「新材料グラフェンを利用した極限高速トランジスタ・集積回路」尾辻泰一(東北大学)
  • 「高度に制御されたグラフェンのCVD成長とヘテロ構造への展開」吾郷浩樹(九州大学)
  • 「原子層物質における電荷密度波 -バルク層状物質との類似性・特異性-」清水亮太(東京工業大学)
  • 「ファンデルワールスヘテロ接合の作製と量子輸送現象」町田友樹(東京大学)
  • 「MoS2デバイス」森貴洋(産総研)

7月20日(水)

  • 「ナノプローブテクノロジー賞受賞講演」福井賢一(大阪大学)
  • 「全固体型リチウムイオン電池と次世代太陽電池のオペランド電位計測」藤田大介(物質・材料研究機構)
  • 「アルミナ薄膜表面上の金属クラスターの表面電位測定」李艶君(大阪大学)
  • 「時間分解静電気力顕微鏡による有機半導体におけるキャリアダイナミクスの可視化」山田啓文(京都大学)
  • 「酸化グラフェンの VUV 光マイクロ還元とその局所電気特性評価」一井崇(京都大学)

第82回研究会「先端計測分析技術・機器開発とイノベーション創出」

日時:2016年4月11日(水)
場所:産業技術総合研究所臨海副都心センター 別館11階会議室11205室
予定内容(1ページ、96.1 KB)

第81回研究会「半導体への顕微鏡応用最前線(SPM、ホログラフィ、AP、HIM)」

日時:2016年1月12日(火)
場所:東京大学(駒場キャンパス 総合研究実験棟(An 棟) コンベンションホール)
プログラム(1ページ、61.2 KB)

第80回研究会「有機材料、有機デバイスとナノプローブテクノロジー」

日時:2015年10月20日(火)、21日(水)
場所:東北大学電気通信研究所(RIEC)本館6F大会議室
予定内容(1ページ、91.8 KB)

第79回研究会「ガス中環境における表面・界面研究の最先端」

日時:2015年7月23日(木)、24日(金)
場所:東京工業大学 キャンパスイノベーションセンター東京 1F 国際会議場
予定内容(2ページ、102.5 KB)

第78回研究会「合成高分子とSPM」

日時:2015年4月22日(木)
場所:産業技術総合研究所 臨海副都心センター 別館11階会議室 11205室
予定内容(1ページ、79.5 KB)

第77回研究会「SPM複合計測機器」

日時:2015年1月8日(木)
場所:東京大学生産技術研究所・駒場リサーチキャンパスAn棟2階コンベンションホール
予定内容(1ページ、75.2 KB)

第76回研究会「ナノスケール固液界面研究の最先端」

日時:2014年10月23日(木)、24日(金)
場所:つくば国際会議場
予定内容(3ページ、256.3 KB)

第75回研究会「Nano mechanics for Green Innovation and Life Science」

日時:2014年8月4日(月)
場所:つくば国際会議場
研究会ウェブページ

第74回研究会「ナノスケール形状・形態計測の最先端」

日時:2014年4月24日(木)
場所:産業技術総合研究所 臨海副都心センター 別館11階会議室 11205室
予定内容(1ページ、59.0KB)

第73回研究会「太陽電池の開発動向と評価」

日時:2014年1月10日(金)
場所:島津製作所関西支社(梅田)14F マルチホール
プログラム(1ページ、52.9 KB)

第72回研究会「リチウム電池・燃料電池と評価技術」

日時:2013年10月23日(水)
場所:東京大学生産技術研究所
プログラム・会場案内(2ページ、201.9 KB)

第71回研究会「新しい大気中・液中市販SPM装置(新技術)と上手な使い方(応用例)」

日時:2013年7月22日(月)〜23日(火)
場所:慶応義塾大学日吉キャンパス(来往舎)
プログラム・申込み(2ページ、109.1 KB)

第70回研究会「グラフェン・シリセンがもたらすナノ材料のブレークスルー 〜基礎・応用・展望〜」

日時:2013年4月18日(木)
場所:産業技術総合研究所臨海副都心センター
プログラム(1ページ、167.5 KB)

第69回研究会「磁気イメージング」

日時:2013年1月10日
場所:東京大学生産技術研究所(東京都)
プログラム(1ページ、83.0 KB)

第68回研究会「固液界面の局所構造に迫る」

日時:2012年10月18-19日
場所:旅館清山(福島市)
プログラム(2ページ、143.8 KB)

第67回研究会「標準化・SPM理論と電気計測最前線」

日時: 2012年7月17-18日
場所:物質・材料研究機構(つくば市)
プログラム(2ページ、162.1 KB)

第66回研究会「バイオイメージング・計測技術の最先端」

日時:2012年4月19日
場所:産業技術総合研究所臨海副都心センター
プログラム(1ページ、120.3 KB)

第65回研究会

テーマ:プローブ技術とレオロジー・トライボロジーの接点

日時:平成24年1月10日(火) 13:30-17:00
場所:東京大学生産技術研究所

プログラム

13:30-13:40 事務連絡
13:40-14:20 「ナノメートルスケールにおける定量的機械特性マッピング」
Chanmin Su (Bruker Nano, Inc.)
14:20-15:00 「ナノスケールの表面形状と摩擦力、凝着力の関係」
安藤泰久(東京農工大学 大学院工学研究院 先端機械システム部門)
15:00-15:15 休憩
15:15-15:55 「粘弾性圧子力学理論の構築、計測装置の開発、ミクロ領域におけるレオロジー計測」
逆井基次(豊橋技術科学大学 物質工学系)
15:55-16:35 「超音波原子間力顕微鏡およびAFMラマンのポリマー材料への応用」
片倉大輔(日本カンタムデザイン)
16:35-17:00 「AFMによる弾性計測ロードマップ –ISO標準化進捗報告−」
中嶋 健(東北大学 原子分子材料科学高等研究機構)

第64回研究会

日時 2011年11月24日(木)、25日(金)
場所 慶應義塾大学 日吉キャンパス 来往舎

11月24日 「光と電子の時空間極限ダイナミクス計測」(講演題目はすべて仮題)

  1. 「NSOMによる窒化物半導体におけるキャリアの空間ダイナミクス測定」川上 養一(京都大学)
  2. 「NSOMによるプラズモンダイナミクスの可視化」井村 考平(早稲田大学)
  3. 「STMを用いたフェムト秒ポンプ・プローブ分光法とキャリアダイナミクス計測への応用」重川 秀実(筑波大学)
  4. 「フェムト波形整形パルスを用いたプラズモンダイナミクスの時空間制御とその計測」神成 文彦(慶應義塾大学)
  5. 「時間分解光電子顕微鏡による表面プラズモンの映像化」久保 敦(筑波大学)
  6. 「Thermal Assisted Magnetic Recording」宮本 治一 (日立中研)
  7. 「近接場光学顕微鏡とその周辺技術の今後のロードマップ」斎木 敏治(慶應義塾大学)

11月25日 「マイクロ・ナノ領域の熱の計測・制御と熱光発電」 (講演題目はすべて仮題)

  1. 「プローブを用いた熱輻射の近接場計測」花村 克悟(東京工業大学)
  2. 「Scanning Thermal Microscopy」中別府 修(明治大学)
  3. 「近接場蛍光分光を用いたナノスケール測温技術」田口 良広(慶應義塾大学)
  4. 「シリコン輻射体を用いたマイクロ光熱発電システム」鈴木 雄二(東京大学)
  5. 「マイクロキャビティによる高効率白熱電球」高原 淳一(大阪大学)

第63回研究会「グリーンデバイスとそれを支えるSPM技術」

日時 2011年7月28日(木),29日(金)
場所 慶應義塾大学 日吉キャンパス 来往舎2階 大会議室

7月28日

  1. 「Non-Si材料チャネルMOSトランジスタの研究開発動向」高木 信一(東大)
  2. 「SiCパワーデバイスの最新動向」四戸 孝(東芝)
  3. 「スピン機能MOSFET技術の展開」菅原 聡(東工大)
  4. 「不揮発性メモリの最新動向」藤崎 芳久(日立)
  5. 「ナノカーボンエレクトロニクス」粟野 祐二(慶大)
  6. 「紫綬褒章受章記念講演(SPMの今後の展望)」森田 清三(阪大)

7月29日

  1. 「3D-AP法によるSi-MOSFET中不純物分布解析」清水 康雄(東北大)
  2. 「相変化メモリデバイスの低電力化とSPM技術への期待」新谷 俊通(AIST)
  3. 「SNRSを用いたMOSFETゲートのひずみ評価」保坂 純男(群馬大)
  4. 「原子スイッチ(ReRAMへの応用を期待して)と評価」長谷川 剛(NIMS)
  5. 「走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)技術の最前線」廣瀬 龍介(SII)

第62回研究会「有機化合物をベースとした電気電子デバイス」

日時 2011年4月21日(木)
場所 産総研臨海副都心センター 別館11F 11206会議室

4月21日

  1. 「大面積有機エレクトロニクス」染谷 隆夫(東大院工)
  2. 「光電子を用いた有機単結晶のエネルギー準位計測」石井 久夫(千葉大先進)
  3. 「低速電子顕微鏡によるペンタセン成長過程のリアルタイム観察」齊木 幸一朗(東大新領域)
  4. 「インピーダンス分光による有機デバイスの評価」内藤 裕義(大阪府大院工)
  5. 「固体接合型有機太陽電池の界面状態解析」平本 昌宏(分子研)
  6. 「有機単結晶界面の電界効果と高性能エレクトロニクス」竹谷 純一(阪大産研)

第61回研究会「収差補正が電子顕微鏡にもたらす夢」

日時 2011年1月11日(火)
場所 東京大学生産技術研究所(駒場)A棟 An301大会議室

  1. 「収差補正TEM技術による界面研究の最前線」 幾原雄一(東大)
  2. 「高分解能化TEM-EELSによる極微小領域の結晶構造解析」 木本浩司(物質・材料研究機構)
  3. 「シリコン結晶中のヒ素ドーパント原子検出 」 大島義文(阪大)
  4. 「収差補正CFE-STEMを用いた原子分解能SEM像と3D評価技術」 稲田博実(日立ハイテクノロジーズ)
  5. 「球面収差補正STEM-EDX によるドーパントの高感度定量評価技術 」 国宗依信(ルネサスエレクトロニクス)
  6. 「収差補正電子顕微鏡を用いた原子分解能観察および分析技術の最前線」 奥西栄治(日本電子)

第60回研究会「半導体評価技術におけるSPMの新展開を探る」(第154委員会と合同)

日時 2010年11月25日(木)
場所 産業技術総合研究所 臨海副都心センター別館 11階 11206会議室

  1. 「半導体界面制御における評価技術」 財満鎭明(名大)
  2. 「高性能・高分解能原子間力顕微鏡の先端技術」 森田清三(阪大)
  3. 「SPMによる半導体表面分析の最近の展開」 藤田大介(物質・材料研究機構)
  4. 「最先端デバイスの半導体/絶縁膜界面制御の最新動向」 小山正人(東芝)
  5. 「磁場計測にもとづく微小回路電流の評価」 高橋琢二(東大)
  6. 「化合物系デバイス新技術」 塩島謙次(福井大)
  7. 「SPMの理論と汎用シミュレーション」 塚田捷(東北大)

第59回研究会
"Imaging of Interfaces in Liquids and Applications to Biomimetic Materials"
"Fundamental Standardization for AFM"
"Standardization of Various Nano-probe Technology"

日時 2010年8月4日(水),5日(木)
場所:石川県立音楽堂 邦楽ホール

8月4日

"Imaging of Interfaces in Liquids and Applications to Biomimetic Materials"

  1. "Zero phase mode atomic force microscopy", L. Pham Van (CEA/DSM/IRAMIS/SPCSI, France)
  2. "New techniques for AFM based force measurement", Sean O'Shea (Institute of Materials Research and Engineering, Singapore)
  3. "Combined atomic force-scanning electrochemical microscopy: nanoelectrochemistry at the AFM-Tip", Christine Kranz (University of Ulm, Germany)
  4. "Atomic resolution observation of soluble crystals in liquid by frequency-modulation AFM", Ken Nagashima (Osaka University)
  5. "Organization and AFM observation of photosynthetic membrane proteins assembled into planar lipid bilayer", Takehisa Dewa (Nagoya Institute of Technology)
  6. "Subnanometer-resolution FM-AFM imaging of biological systems in liquid", Takeshi Fukuma (Kanazawa University)

ナノプローブ賞受賞講演

  1. "Watching protein dynamics in action with high-speed AFM", Takayuki Uchihashi (Kanazawa University)
  2. "Dynamic structural changes in single receptor protein observed with fast-scanning atomic force microscopy", Youichi Shinozaki (NTT Basic Research Laboratories)
  3. "Small amplitude mono- and bi-modal dynamic force microscopy/spectroscopy for vertical and lateral force detections", Shigeki Kawai (University of Basel, Switzerland)

8月5日

"Fundamental standardization for AFM"

  1. "Nanoscale dimensional metrology and standardisation", Gaoliang Dai (PTB, Germany)
  2. "Calibration of dynamic sensors for noncontact-atomic force microscopy", Gordon A. Shaw (NIST, USA)
  3. "Drift measurement of SPM", Wenhao Huang (Univ.of Science and Technology of China)
  4. "Improved methods, interlaboratory comparison and standardization of AFM cantilever spring constant calibration", Charles Clifford (NPL , UK)
  5. "Probe artifacts and image reconstruction", D. Fujita (NIMS, Japan)

"Standardization of various nano-probe technology"

  1. "Characterization of soft materials", Jun Hu (Shanhai Institute of Applied Physics, China)
  2. "Standardization of nanoscale optical microscopy", Jeongyong Kim (University of Incheon, Korea)
  3. "Standardization of throughput in Near-field scanning optical microscopy", Tadashi Mitsui (NIMS,)

第58回研究会「走査プローブ顕微鏡における探針関連技術の現状と展望」

日時 2010年4月13日(火)
場所 産業技術総合研究所 臨海副都心センター別館 11階 11206会議室

  1. 「水晶振動子を用いた小振幅AFMによる高分解能観察」江口 豊明, 安 東秀, 長谷川幸雄(東大)
  2. 「AFMを用いた細胞解析技術−ナノスケール針によるセルサージェリー」中村 史(産総研)
  3. 「カーボンナノチューブ探針」吉村 雅満(豊田工大)
  4. 「単結晶ダイヤモンドプローブ開発とその評価」 小山浩司、会田秀雄、砂川和彦(並木精密宝石)
  5. 「探針評価技術の現状と展望」井藤 浩志(産総研)
  6. 「ナノ計測のためのマイクロプローブ」小野 崇人(東北大)

第57回研究会

テーマ:

  1. 表面の物性(粘弾性など)測定のためのAFMの新しい測定法 (ねじれ振動を用いたAFMと多周波数AFMを中心として)
  2. 原子レベルのスピン検出

日時:平成22年1月7日(木)・8日(金)
場所:大阪大学(吹田キャンパス)銀杏会館 大会議室

研究会プログラム:

1月7日(木)

  1. 「超音波共振顕微鏡を用いた固体の粘弾性測定」 荻 博次 (阪大)
  2. 「広帯域励振による粘弾性計測」影島 賢巳(阪大)
  3. 「生体分子の粘弾性計測」 川上 勝(北陸先端大)
  4. 「ソフトマター表面の粘弾性測定」中嶋 健(東北大)
  5. 「ねじれ振動AFMによる摩擦力測定」 川勝 英樹 (東大)

1月8日(金)

  1. 「スピン偏極トンネル顕微鏡」 川越 毅 (阪教育大)
  2. 「ESR-STM」米田 忠弘 (東北大)
  3. 「単一分子スピンの検出」 高木 紀明 (東大)
  4. 「非弾性トンネル分光によるスピン検出」菅滋正、宮町俊生 (阪大)
  5. 「磁気交換力顕微鏡によるスピン検出」末岡 和久 (北大)

第56回研究会 「ナノ・バイオテクノロジーの現状と展望 −ナノプローブ技術に期待されるもの−」

日時:2009年11月10日(火)
場所:(独)情報通信研究機構本部 本館3階国際会議室

  1. 「高速原子間力顕微鏡による生体分子のダイナミクス観察 〜現状と将来展望〜」 内橋 貴之 (金大)
  2. 「医療機器の安全性評価に必要なナノイメージングとは? 〜現状と将来〜」中岡 竜介 (国立医薬品食品衛生研究所)
  3. 「頭髪化粧料の開発におけるAFMの有用性について」 北野 宏樹 (ホーユー株式会)
  4. 「生体親和性の高い架橋剤による医療用材料の創製」  田口 哲志 (物材機構)
  5. 「生体親和性ポリマーナノ粒子細胞イメージングプローブ」 石原 一彦 (東大)
  6. 情報通信研究機構内見学:  日本標準時をつくる原子時計、その周辺技術の見学、

第55回研究会 「SPMと関連技術の未来予想 -SPMロードマップ2010-2011へ向けて-」

日時:2009年7月23日(木),24日(金)
場所:桐生地域地場産業振興センター 第2ホール(中3階)

第1日(7月23日)

  1. 「過去のSPMロードマップの点検と新ロードマップに向けて」 森田清三
  2. 「SPMの現状概観とロードマップ点検」富取正彦、菅原康弘
  3. 「SPMの応用技術とロードマップ点検」保坂純男、山田啓文、藤田(高)、西川治
  4. 「SPMの新技術動向とロードマップ点検」米田忠弘、山田啓文、吉村雅満
  5. パネル討論「SPMへの期待・可能性を語る」

第2日(7月24日)

  1. SPM標準化委員会
  2. 「SPMの応用とロードマップ点検」臼田宏治、末岡和久、大西洋、田中秀吉
  3. 「SPMの理論とロードマップ点検」塚田捷
  4. パネル討論「SPMロードマップ2010-2011へ向けて(“SPMの夢は実現するか?”新たな夢への道程)」
    富取正彦、臼田宏治、住友弘二、久保 理、その他全員

第54回研究会 「自動車産業の研究開発におけるナノプローブ技術のニーズ」

日時:2009年4月17日
場所:産総研臨海副都心センター 別館11F 11206会議室

  1. 「EV普及に向けて急発展する高性能パワーデバイス-分析技術SiCデバイス開発とその接点−」 谷本 智(日産自動車)
  2. 「SSRMによる埋め込みトレンチ型SiC-JFET微小領域の不純物濃度評価」杉山 尚宏(デンソー)
  3. 「固体高分子燃料電池の過去・現在・未来」堀 美知郎(大同大)
  4. 「固体高分子形燃料電池用電解質膜の構造・物性解析 〜SPMへ期待すること〜」太平 昭博(産総研)
  5. 「燃料電池に用いられるナフィオン膜のSPM評価」梅村 和夫(東理大)
  6. 「『材料の気持ち』を測るビジネス −『ナノ物性』はナノスケール物性ではない−」叶 際平(日産アーク)
  7. 「ディーゼルエンジンから排出されるナノPM粒子のAFMによるキャラクタリゼーション」光岡 拓哉(豊田中研)

第53回研究会「最新CMOS半導体評価技術とBeyond-CMOSの有力素子:グラフェン」

日時 2009年1月8-9日
場所 キャンパスプラザ京都

1月8日:新半導体素子:グラフェン特集

  1. グラフェン:総論(物性,作成法一般について)(北海道大学 徳本洋志)
  2. Emerging research deviceとしてのグラフェンの展望とグラフェン・オン・Si技術 (東北大学 末光眞希)
  3. グラフェンのスピンデバイス(筑波大学 神田晶申)
  4. SiC上のグラフェンの現状とプローブ技術の展望(NTT 永瀬雅夫)
  5. 単層グラフェン薄膜の形成と透明電極応用(埼玉大学 上野啓司)
  6. グラフェンの低温物性(東京大学 福山 寛)
  7. グラフェンの新しい成膜技術(早稲田大 大島忠平)

1月9日:次世代半導体用最新評価技術

  1. 次世代MOSFETを支える高精度ホログラフィの最前線(NEC 五十嵐信行)
  2. TEM-CTによる半導体内部立体構造観察(阪大 鷹岡昭夫)
  3. 測長AFMによるデバイス立体形状測定(産総研 権太 聡)
  4. 近接場ラマン分光を用いた局所歪み計測(理研 早澤紀彦)
  5. KFMによる半導体不純物分析の最前線(静岡大 田部道晴)
  6. ナノワイヤの伝導機構評価とデバイス応用への課題(NIMS、久保 理)

第52回研究会「化学・材料産業界のSPMニーズ」

日時 2008年11月26日(水)
場所 島津製作所東京支社

  1. 磁気デバイス評価におけるSPMへの期待 (東芝)才田 大輔
  2. 基板上クラスターと触媒表面化学 (豊田中央研究所)渡邊 佳英
  3. 極微小領域解析技術としてのSPMへの期待 (三井化学)松岡 修
  4. 色素増感太陽電池の開発とプローブ顕微鏡観察 (シャープ)小出 直城
  5. 単一分子レベルでの受容体タンパク質の機能観察 (NTT)住友 弘二
  6. エネルギー変換技術とナノテク・バイオとの接点 (AIST)本間 格
  7. 静電気力顕微鏡による表面電位測定 (トレックジャパン)東尾 順平

第51回研究会「光子制御技術の最先端 〜単一光子発生・単一量子系観測・メタマテリアル」

日時 2008年7月17日(木),18日(金)
場所 慶應義塾大学日吉キャンパス来往舎2階 大会議室

7月17日

  1. 「単一光子顕微鏡」小宮山進(東大)
  2. 「化学機能探針による物質同定」福井賢一(阪大)
  3. 「単一光合成アンテナ複合体の分光」松下道雄(東工大)
  4. 「フォトニック結晶」 岩本敏(東京大)
  5. 「単一光子・相関光子発生技術」枝松 圭一(東北大)

7月18日

  1. 「近接場光学顕微鏡による単一量子系イメージング分光」斎木敏治(慶応大)
  2. 「メタマテリアル概論」石原照也(東北大)
  3. 「原子間力顕微鏡における高精度な探針位置制御技術の開発とその応用」阿部真之(阪大)(ナノプローブ賞受賞講演)
  4. 新製品紹介(Veeco Instruments)
  5. 新製品紹介(Agilent Technologies)

第50回研究会「先端電子顕微鏡の最新技術と応用」

日時:平成20年4月24日(木) 13:00-17:15
場所:独)産業技術総合研究所 臨海副都心センター

  1. 収差補正透過電子顕微鏡による0.5オングストローム分解能の実現
    高柳邦夫(東京工業大学)
  2. 走査透過電子顕微鏡(STEM)と電子エネルギー損失分光法(EELS)による原子コラムの可視化
    木本浩司((独)物質・材料研究機構)
  3. 透過電子顕微鏡による単分子イメージング
    末永和知((独)産総研ナノカーボンセンター)
  4. 高分解能TEMとAFM/STMの複合装置開発によるナノ力学・物性計測
    木塚徳志(筑波大学)
  5. SPMに求める基本性能と機能拡張
    日下 貴生(キャノン(株) 先端融合研究所)
  6. SEMによる超低加速高分解能観察
    新澤雄彦(日本電子(株))

第49回研究会「生物現象のナノ力学とプローブ顕微鏡の標準化」

日時:平成20年1月24日(木)〜25日(金)
場所:東京工業大学(長津田)すずかけ台キャンパス内 すずかけホール

  1. 生物現象のナノ力学(イントロダクトリー)
    猪飼 篤(東京工業大学)
  2. インテグリンを介した細胞接着 のメカニズム
    高木淳一(大阪大学)
  3. 生体情報伝達連鎖機構の単分子力学解析と計算機モデリング
    猪飼 篤(東京工業大学)
  4. ナノスケール領域の材料力学
    岸本喜久雄(東京工業大学)
  5. タンパク質分子力学の実験と分子動力学シミュレーション
    関口博史(東京工業大学)、田上勝規(早稲田大学)
  6. ISO/TC201におけるSPM国際標準化活動の展開
    藤田大介(物質・材料研究機構 ナノ計測センター)
  7. 7.SPMターミノロジーの標準化の展開
    安武正敏(エスアイアイ・ナノテクノロジー(株))
  8. SPMの校正と標準試料(ISO TC201/SC9における標準化の現状)
    井藤浩志(産業技術総合研究所 計測フロンティア研究部門)
  9. SPMの使用法の標準化の展開(含むアンケート)
    三隅伊知子(産業技術総合研究所 計測標準研究部門)
  10. NSOM/SNOMの標準化の動向と日本の対応
    中嶋 健(東京工業大学大学院 理工学研究科)
  11. AFM探針に関する標準化の動向ISO TC201/SC9/SG5
    戸田明敏(オリンパス(株))

第48回研究会「半導体分析技術を支えるSPM技術の現状と未来」

日時:平成19年11月19(月)-20日(火)
場所:ウェルシティ金沢 (石川厚生年金会館)

  1. 原子・分子の識別・操作の最新動向と未来
    森田 清三(大阪大学 工学研究科)
  2. 液中原子・分子の識別・操作の最新動向と未来
    山田 啓文(京都大学 工学研究科)
  3. SSRMを用いたCMOSFET極浅接合における電化キャリア分布の2次元高精度計測
    張 利((株)東芝 研究開発センター)
  4. SNDMによる半導体デバイス評価
    本田 耕一郎((株)富士通研究所 基盤技術研究所)
  5. SCM・SSRMの限界と課題
    藤田 高弥((株)東レリサーチセンター)
  6. 静電気力測定による半導体評価の現状と課題
    小林 圭(京都大学 産官学連携センター)
  7. 原子・分子の識別・操作の今後の課題
    杉本 宜昭(大阪大学 工学研究科)
  8. 1原子元素分析の可能性
    塚田 捷(早稲田大学 先進理工学研究科)
  9. SEM式ナノプロービングシステムの開発
    三井 泰裕((株)日立ハイテクノロジーズ)
  10. 単電子デバイスとその場計測の重要性
    高橋 庸夫(北海道大学 情報科学研究科)
  11. 広がるマルチプローブ技術の最新動向と未来
    中山 知信(物質材料研究機構 ナノシステム機能センター)
  12. 有機トランジスタのSPM評価
    橋詰 富博((株)日立製作所 基礎研究所)

第47回研究会「有機デバイス・バイオセンシングの現状とプローブ顕微鏡との接点」

日時:2007年7月20日(金) 13:00〜17:00
場所:独立行政法人 産業技術総合研究所
   臨海副都心センター本館 4階 会議室(412)

  1. 単一分子観察技術による生物素構造のダイナミクス
    小嶋 寛明(情報通信研究機構・未来ICT研究センター)
  2. 電気を流すプラスチックの1分子細線を作る
    坂口浩司(静岡大学電子工学研究所・ナノデバイス材料部門)
  3. CNTデバイスの現状と実用化に向けての課題
    畠 賢治(産総研・ナノカーボン研究センター)
  4. 有機トランジスタの課題とナノプローブ計測
    中村雅一(千葉大学大学院工学研究科・人工システム科学専攻)
  5. 分子デバイスの創製に向けたナノプローブ計測
    真島豊(東京工業大学大学院理工学研究科・電子物理工学専攻)

第46回研究会「SPMの装置と応用」

日時:平成19年4月20日(金)
場所:(株)東陽テクニカ テクノロジー インターフェースセンター

  1. SPMを用いた正しい物理量計測を目指して
    中嶋 健(東京工業大学 大学院理工学研究科)
  2. 自己検知型プローブを利用するAFMの開発とバイオサンプルの観察
    本間 克則(㈱生体分子計測研究所)
  3. 今後のプローブ開発について」
    長谷川 友保(オリンパス㈱ MEMS開発本部)
  4. 近接場ラマン分光法を用いたSiの応力分布評価
    村上 昌孝(㈱東レリサーチセンター 構造化学研究部)
  5. 磁気共鳴力顕微鏡(MRFM)による局所領域のMRI測定
    吉成 洋祐(日本電子㈱ 開発本部)
  6. 空間分解能100nmをこえる局所ナノ熱解析
    山下 泰久(㈱東陽テクニカ 分析システム部)

第45回研究会「光・プローブ技術を駆使した細胞操作とイメージング」

日時:平成19年1月25日(木) 13:00-17:30 26日(金) 9:00-12:00
場所:産業技術総合研究所 臨海副都心センター別館
バイオ・IT融合研究棟 11階 会議室1

1月25日

  1. ナノ計測の展望と課題
    安宅 龍明(オリンパス株式会社・未来創造研究所)
  2. ナノ構造計測のロードマップ
    小島 勇夫(産業技術総合研究所・計測標準部門)
  3. ナノ物性計測のロードマップ
    馬場 哲也(産業技術総合研究所・計測標準部門)
  4. ナノテクノロジーの国際標準化の動向について
    一村 信吾(産業技術総合研究所・計測フロンティア研究部門長)

1月26日

  1. ISO/TC201(Surface Chemical Analysis)におけるSPM標準化の概要
    安武 正敏(エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)基盤技術開発部)
  2. Si-LSIのロードマップ
    岩井 洋(東京工業大学・フロンティア創造共同研究センター)
  3. 有機半導体未来予測
    八瀬 清志(産業技術総合研究所・光技術研究部門)

第44回研究会「光・プローブ技術を駆使した細胞操作とイメージング」

日時:平成18年10月26日(木) 13:00-17:10
場所:慶應義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 大会議室

  1. 1分子追跡による細胞膜上でのシグナル変換の研究
    楠見 明弘(京都大学再生医科学研究所)
  2. 生細胞の力学的イメージングとその運動の制御
    川端 和重(北海道大学大学院生命理学専攻)
  3. 先鋭化されたAFMプローブ「ナノ針」による低侵襲な細胞操作技術
    中村 史(産業技術総合研究所セルエンジニアリング研究部門)
  4. ナノプローブ法による単一生細胞の解析
    長田 俊哉(東京工業大学大学院生命理工研究科)
  5. 走査型電気化学・近接場光学・原子間力顕微鏡の開発とバイオ応用
    丸山 健一(アナシステクニカ)

第43回研究会【第9回非接触原子間力顕微鏡国際会議】

日時:平成18年7月16日(日)〜20日(木)
場所:兵庫県神戸市神戸国際会議場 国際会議室
発表:口頭講演48件、ポスター発表80件、合計128件(17カ国)、参加者:227人(17カ国)

第42回研究会「企業サイドからのSPM関連装置のニーズとシーズ」

日時:平成18年4月25日(火) 13:00-17:00
場所:(株)東陽テクニカ テクノロジー インターフェースセンター 9F会議室

  1. 強誘電体を記録媒体とした超高密度プローブストレージの研究
    尾上 篤(パイオニア(株) 総合研究所)
  2. 最新の3次元アトムプローブの紹介と分析事例
    渡邉 勝巳(アルバック・ファイ(株) ナノテクノロジー事業部)
  3. 独SPECS社の高速スキャンSTM及びLT—STM
    和田 桂一(アステック(株) 科学計測事業部)
  4. SPMの測定環境
    荒沢 裕之(ヘルツ(株) 営業G)
  5. SPMに求める基本性能と機能拡張
    日下 貴生(キャノン(株) 先端融合研究所)
  6. 最新のプローブ顕微鏡
    長村 俊彦((株)ユニソク)
  7. ナノインデンテーション法及びナノスクラッチ法による層間絶縁膜のナノ機械物性の評価
    児嶋 伸夫((株)日産アーク 研究部物性解析研究室)

第41回研究会「nc-AFMの新展開,半導体・デバイス評価,標準化」

日時:平成18年1月11日(水) 13:30-17:10 12日(木) 9:30-12:00
場所:東京工業大学大岡山キャンパス 百年記念館 フェライト会議室(3階)

1月11日

  1. 固液界面における化学反応のナノスケール観察と制御
    犬飼 潤治(東北大学大学院工学研究科)
  2. ナノスペース中の水
    金子 克美(千葉大学理学部化学科)
  3. コロイドプローブAFM法による表面構造設計した微粒子間相互作用の評価
    神谷 秀博(東京農工大学大学院・共生科学技術研究部)
  4. 張力増加速度一定モードフォーススペクトロスコピーの開発と一分子計測への応用
    武内 修(筑波大学数理物質科学研究科)
  5. (新製品紹介1)ナノプローブテクノロジー製品の最新情報
    山下 泰久((株)東陽テクニカ)

1月12日

  1. 単一分子の電子伝導
    藤平 正道(東京工業大学大学院生命理工学研究科)
  2. 導電性分子ネックレスの伝導測定
    下村 武史(東京農工大学共生科学技術研究部)
  3. 近接場光学顕微鏡の開発と高分子の構造解析への応用
    青木 裕之(京都大学大学院工学研究科)
  4. (新製品紹介2)温度制御型プローブ顕微鏡によるエポキシ樹脂表面のキャラクタリゼーション
    岩佐 真行(エスアイアイ・ナノテクノロジー(株))

第40回研究会「ナノプローブ関連先端計測」

日時:平成17年10月19日(水) 13:00〜17:00
場所:大阪大学コンベンションセンター(大阪大学吹田キャンパス)会議室1(1階)

  1. An Odyssey of Imaging Atoms: from Field Emission Microscope to Atom Probe
    西川 治(金沢工業大学)
  2. ティップサイエンス ナノとマクロをつなぐ橋 —理論系から—
    佐々木 成朗(成蹊大学)
  3. ティップサイエンス —実験系から—
    富取 正彦(北陸先端科学技術大学院大学)
  4. ナノ電気伝導計測用導電性プローブ
    長谷川 修司(東京大学)
  5. 磁気力顕微鏡用カーボンナノチューブプローブ
    倉持 宏美(産総研)
  6. カンチレバー共振型超高感度質量センサー
    曾根 逸人(群馬大学)

第39回研究会「nc-AFMの新展開,半導体・デバイス評価,標準化」

日時:平成17年7月27日(水) 13:00〜17:20 7月28日(木) 9:25〜12:00
場所:東京工業大学すずかけ台キャンパス(すずかけホール)集会室1

7月27日

  1. 非接触原子間力顕微鏡(nc-AFM)の最新動向
    森田 清三(大阪大学)
  2. 1気圧チッソ雰囲気中での原子分解能観察
    笹原 亮(神戸大学)
  3. カンチレバーの変位検出過程における雑音低減 —実用環境における原子・分子分解能AFM観察—
    山田 啓文(京都大学)
  4. 電圧印加非接触原子間力顕微鏡/分光法の開発【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演】
    新井 豊子(北陸先端科学技術大学院大学)
  5. AFMによるGe/Si(105)表面の原子像およびポテンシャル測定
    長谷川 幸雄(東大物性研)
  6. AFMを用いた半導体原子の識別と操作【ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演】
    杉本 宜昭(大阪大学)
  7. STM発光分光による表面振動分光法の開発
    上原 洋一(東北大学)

7月28日

  1. ゲートLERがsub-50nm N-MOSFETのextension不純物分布へ及ぼす影響の直接評価
    福留 秀暢((株)富士通研究所)
  2. トランジスタ内2次元電位分布解析
    松元 隆夫((株)日立製作所 中央研究所)
  3. 表面化学分析技術国際標準化委員会(JSCA)SPM WG報告
    黒澤 富蔵(産業技術総合研究所)
  4. 測長AFMによるナノメートル標準の確立に向けて
    三隅 伊知子(産業技術総合研究所)

第38回研究会「ナノプローブ関連先端計測」

日時:平成17年4月19日(火) 13:00-16:45
場所:京都大学 桂キャンパス 桂インテックセンター会議室(3階)

  1. 汎用走査プローブ顕微鏡シミュレータの開発
    塚田 捷 (早稲田大)
  2. フェムト秒時間分解走査プローブ顕微鏡技術の開拓と極限計測
    重川 秀実 (筑波大)
  3. 低次元ナノマテリアルと単一分子の振動分光・ESR検出装置開発
    米田 忠弘 (東北大)
  4. 先端的ナノトライボロジー計測による情報記憶装置の革新
    福澤 健二 (名大)
  5. 生体分子のオンチップ分離・回収と1分子機能解析
    船津 高志 (東大)

第37回研究会「ナノプローブ技術の新展開と標準化」

日時:平成17年1月26日(水) 13:30-17:40 27日(木) 11:10-14:40
場所:かずさアカデミアホール(かずさアーク内) 201A会議室

1月26日

  1. ゲノム研究からのナノプローブテクノロジーへの期待
    小原 收(かずさDNA研究所ヒト遺伝子研究部)
  2. 微細加工技術を利用した細胞利用計測技術の新展開
    安田 賢二(東京大学大学院総合文化研究科)
  3. 大気中、真空中、溶液中における染色体及びDNAのSPM観察 —Q値制御などの観察手法の検討—
    繁野 雅次(エスアイアイ・ナノテクノロジー(株) 技術二グループ)
  4. かずさDNA研究所見学

1月27日

  1. (講演題目未定)
    山田 啓文(京都大学工学研究科)
  2. シリコン基板上への膜タンパク/脂質二重膜集積構造の形成とバイオセンサー応用
    宇理須 恒雄(分子科学研究所 反応動力学部門)
  3. 半導体表面を用いた生体機能解析
    庭野 道夫(東北大学電気通信研究所ナノ・スピン実験施設)

第36回研究会「Si半導体関連(半導体表面、デバイス)」

日時:平成16年10月22日(金) 13:00-17:20
場所:京都大学 桂キャンパス 桂インテックセンター会議室(3階)

  1. レーザービームによる半導体表面原子結合の操作
    金崎 順一(大阪市立大学)、谷村克己(大阪大学)
  2. シリコン表面における電子定在波
    平山 博之(東京工業大学)
  3. STMによる原子分解能ドーパント分布計測技術の開発
    西澤 正泰、金山 敏彦(MIRAI?AIST)
  4. NC—AFMを用いたゲート絶縁膜のリーク機構の検討
    酒井 朗、財満 鎭明、安田 幸夫(名古屋大学)
  5. 非線形誘電率顕微鏡によるMONOS型Flashメモリ中の蓄積電荷の視覚化
    本田 耕一郎((株)富士通研究所),長 康雄(東北大電気通信研)
  6. Veeco社製SPMの新製品とその技術について
    寺田 昇(日本ビーコ(株))

第35回研究会「ナノプローブ技術の新展開と標準化」

日時:平成16年7月21日(木) 13:30-17:10 22日(金) 9:30-12:00
場所:東京工業大学 大岡山キャンパス 百年記念館 フェライト会議室(3階)

7月21日

  1. 非線形誘電率顕微鏡の開発とナノドメインエンジニアリング【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演】
    長 康雄(東北大学・電気通信研究所)
  2. TC201/TC202に係わる国際標準化活動と、SPMに関する国際標準化の動向
    一村 信吾(産業技術総合研究所 計測フロンティア研究部門)
  3. 15:40〜16:20 ミリからナノまでのワイドレンジ観察・測定ができる新型顕微鏡
    粉川 良平(島津製作所)
  4. Characterization of Various Semiconductor Devices utilizing SPM
    Ilsub Chung(イルサブ・チョン)(韓国Sungkyunkwan大学)

7月22日

  1. ダイナミックモード原子間力顕微鏡によるナノスケール電気計測の開拓【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演】
    山田 啓文、小林 圭(京都大学大学院工学研究科)
  2. 非接触原子間力顕微鏡を用いた力学的単原子操作【ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演】 
    大藪 範昭(大阪大学大学院工学研究科)
  3. カーボンナノチューブ—無機材料ハイブリッドナノ構造の構築とその応用
    片山 光浩(大阪大学大学院工学研究科)

第34回研究会「ビーム技術最前線」

日時:平成16年4月20日(木) 13:00〜17:00
場所:日本ビーコ(株)本社 2F会議室

  1. 収束イオンビームによる三次元ナノテクノロジーの展開
    松井 真二(姫路工大)
  2. 放射光によるナノ加工技術の現状
    杉山 進(立命館大学)
  3. 新しい電子ビーム源とその応用
    三村 秀典(静岡大学)
  4. 超高分解能透過電子顕微鏡技術の最前線
    田中信夫(名古屋大)

第33回研究会「ソフトマテリアル」「走査型プローブ顕微鏡関連市販製品の最新技術(2)」

日時:平成16年1月29日(木) 13:00〜17:30 30日(金) 9:00〜12:45
場所:東京工業大学 大学会館

1月29日

  1. 高速原子間力顕微鏡(生体分子のナノダイナミクス撮影装置)の最近の展開
    安藤 敏夫(金沢大学)
  2. モーター蛋白質をナノアクチュエータとして使う
    上田 太郎(産業技術総合研究所)
  3. Extraction of Membrane Proteins from a Living Cell Surface Using the Atomic Force Microscope and Covalent Crosslinkers【ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演】
    Rehana Afrin(東京工業大学)
  4. Advanced AFM Imaging Techniques for Life Sciences
    Xiu Qiang Tong(Molecular Imaging, USA)
  5. 次世代に向けた高精度原子間力顕微鏡〜観察から加工まで
    小森 研治((株)生体分子計測研究所)
  6. A new generation AFM with improved scan accuracy, scan speed, and optical vision
    Sang-il Park(PSIA Corporation, Korea)

1月30日

  1. 接場光学顕微鏡による界面液晶配向の電場応答観察
    田所 利康((株)オプトクエスト)
  2. Single molecule force microscopy of adhesion protein nanostructures at surfaces
    Gilbert Walter(University of Pittsburgh)
  3. SPIシリーズの最新技術の紹介 —有機、バイオ、電気応用を中心として—
    繁野 雅次(エスアイアイ・ナノテクノロジー(株))
  4. 高分子ナノ計測
    西 敏夫(東京工業大学)

第32回研究会「走査型プローブ顕微鏡関連市販製品の最新技術(1)」

日時:平成15年10月24日(金) 13:00〜17:40
場所:弘済会館 きく(西)

  1. カーボンナノチューブプローブが走査型プローブ顕微鏡を変える【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演】
    中山 喜萬(大阪府立大)
  2. ナノプローブテクノロジーによる高分子材料表面のキャラクタリゼーション【ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演】
    田中 敬二(九州大)
  3. FM検出法による高分解能観察
    鈴木 克之(日本電子(株))
  4. Recent development of SPM technologies and products by Veeco Instrument
    Bob Tench(Veeco Instruments, Inc.)
  5. 最新のSPM装置のご紹介
    長村 俊彦((株)ユニソク)
  6. Nanotechnology News and Applications Gemini, High-Resolution UHV-SEM Integration into Multi-Technique Systems
    Jorg Schuler(Omicron NanoTechnology)
  7. SPMを応用したナノテクノロジー支援ツールの紹介
    山下 泰久((株)東陽テクニカ)

第31回研究会「ナノ/バイオデバイス・ナノマシン」

日時:平成15年7月1日(火) 13:00〜17:30 2日(水) 9:00〜12:00
場所:島津製作所 東京支社 2階セミナー室

7月1日

  1. 次世代ナノバイオデバイス
    馬場 嘉信(徳島大薬・科技団CREST・産総研)
  2. カーボンナノチューブトランジスタ
    二瓶 史行(日本電気(株) 基礎研究所)
  3. マイクロ加工
    川勝 英樹(東京大学 生産技術研究所)
  4. 親指サイズ電子顕微鏡の研究・開発
    三好 元介(東京大学 先端科学技術研究センター)

7月2日

  1. 化学・生化学応用を目的としたナノ/マイクロ流体デバイス・システム
    庄子 習一(早稲田大学 理工学部)
  2. バイオナノプロセス:バイオ技術を利用したナノ構造の作製
    山下 一郎(松下電器産業(株) 先端技術研究所)
  3. 次世代ナノ構造電子デバイスの展望
    榊 裕之(東京大学 生産技術研究所)

第30回研究会「ナノ〜単一分子スケール分光」

日時:平成15年4月22日(火) 13:00〜17:30
場所:かながわサイエンスパーク 西棟7階 会議室

  1. 神奈川科学技術アカデミー実験室ツアー
  2. 単一分子の振動分光と化学反応
    川合 真紀(理化学研究所)
  3. 赤外・可視・紫外光を用いた近接場分光分析
    成田 貴人(日本分光(株))
  4. ナノチューブの共鳴ラマン分光の進展
    齋藤理一郎(東北大学)
  5. 局所増強ナノチップによる分子振動イメージング
    井上康志(大阪大学)
  6. 生体細胞のin vivo時空間ラマン分光
    浜口宏夫(東京大学)

第29回研究会(設置継続記念研究会)「ナノプローブテクノロジーの発展を期して」

日時:平成15年1月14日(火) 13:00〜17:00
場所:NEC三田ハウス芝倶楽部(東京)

  1. 委員総会
  2. 挨拶 —第1期5年間の活動を振り返って—
      委員長 森田 清三
  3. ナノプローブ技術の急展開—非接触原子間力顕微鏡の動向【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演】
    森田 清三(大阪大学大学院工学研究科)
  4. 極限精度バイオナノマニピュレータ研究開発(未来開拓推進事業報告)【ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演(Mohammed Taufiq Alam)を兼ねる】
    猪飼 篤(東京工業大学大学院 生命理工学研究科)
  5. 走査プローブ顕微鏡による吸着分子の化学識別【ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演(笹原 亮)を兼ねる】
    大西 洋(神奈川科学技術アカデミー)

第28回研究会「微小部・微量物質の熱物性とその評価法」

日時:平成14年8月29日(木) 13:00〜17:00
場所:主婦会館

  1. 機能性材料のナノスケールにおける熱特性
    八田 一郎(福井工業大学)
  2. 先端産業用材料開発におけるナノスケール熱物性評価の重要性
    山根 常幸((株)東レリサーチセンター)
  3. マイクロメカニカルカロリメトリーによるピコグラム試料の相転移熱測定
    中川 善嗣((株)東レリサーチセンター)
  4. 走査型熱顕微鏡による微小スケール熱計測
    中別府 修(東京工業大学)
  5. 半導体実装分野における熱特性評価
    大曽根 靖夫((株)日立製作所)

第27回研究会「ナノスケール物性分析」

日時:平成14年5月29日(水)
場所:NEC三田ハウス芝倶楽部(東京)

  1. STMアクティブナノ計測
    藤田 大介(物質・材料研究機構)
  2. 走査型トンネル顕微鏡による短チャンネルMOSFETの評価
       長谷 川繁彦(大阪大学 産研)
  3. 静電容量プローブ顕微鏡によるX線吸収分光
       石井 真史(Spring-8高輝度光科学研究センター)
  4. ナノフォトニクス用材料 —デバイスの作製とその評価—
       大津 元一(東京工業大学)
  5. 低エネルギー電子顕微鏡と光電子顕微鏡による動的観察と構造解析
       越川 孝範(大阪電気通信大)

第26回研究会「分子エレクトロニクス」

日時:平成14年3月5日(火)
場所:主婦会館 プラザエフ

  1. 有機トランジスター:薄膜デバイスから単一分子デバイスへ
       多田 博一(岡崎国立共同研究機構 分子科学研究所)
  2. Dual-probe STMとカーボンナノチューブトランジスタ
       真鍋 力、渡辺 浩之 清水 正昭(富士ゼロックス(株) 中央研究所)
  3. 走査プロープを用いたDNA及び鎖状有機分子の電子物性計測
       松本 卓也、川合 知二(大阪大学 産業科学研究所)
  4. 分子電子素子のための分子設計と物性評価
       小川 琢治(愛媛大学 理学部)
  5. 分子システムから分子デバイスへ
       中村 貴義(北海道大学 電子科学研究所)

第25回研究会「化合物半導体デバイスの現状と展望」

日時:平成14年1月31日(木)
場所:豊田工業大学

  1. 窒化物半導体ナノ構造の現状と展望
       荒川 恭彦(東京大学 先端科学技術研究センター)
  2. ワイドギャップ半導体の現状と将来展望
       吉田 博(大阪大学 産業科学研究所)
  3. III-V族ならびにII-VI族化合物半導体の現状と将来展望
       末宗 幾夫(北海道大学 電子科学研究所)
  4. 太陽光発電の現状と将来展望 —高効率化合物半導体多接合構造太陽電池の研究—
       山口 真史(豊田工業大学)

第24回研究会「LSI個別プロセス技術の将来と計測への要望」

日時:平成13年11月8日(木)
場所:主婦会館 プラザエフ

  1. 次世代LSIプロセス技術と極限計測への挑戦
       広瀬 全孝(産業技術総合研究所 次世代半導体研究センター)
  2. 極薄ゲート絶縁膜ロードマップと課題
       丹羽 正昭(松下電器(株) 半導体社プロセス開発センター)
  3. リソグラフィ技術のロードマップと課題
       寺澤 恒男(半導体MIRAIプロジェクト リソグラフイ・マスク計測技術グループ)
  4. バックエンドプロセスにおける配線技術の現状と展望
       金子 尚史((株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター)

第23回研究会「第4回非接触原子間力顕微鏡国際会議(共催)」

日時:平成13年9月1日(土)—5日(水)
場所:京都テルサ

第22回研究会「近未来電子デバイス—SiおよびC系—」

日時:平成13年7月13日(金)
場所:主婦会館 プラザエフ

  1. シリコン単電子トランジスタ
       高橋 庸夫(NTT 物性科学基礎研究所)
  2. ナノ構造の観測・分析技術に関するアンケート調査結果の紹介
       黒沢 賢(NTTアドバンストテクノロジ(株))
  3. SOIとSiGeデバイス —超高速Siデバイス—
       土屋 敏章(島根大学 総合理工学部)
  4. ダイヤモンドの基礎物性とデバイスへの応用
       大串 秀世(産業技術総合研究所 新炭素系材料開発研究センター)
  5. 有機電子デバイスの現状
       工藤 一浩(千葉大学 電子機械工学科)

第21回研究会「ナノテクノロジープロジェクト」

日時:平成13年5月23日(水)
場所:主婦会館 プラザエフ

  1. 経済産業省関連ナノテクノロジープロジェクト概要
       一村 信吾(産業技術総合研究所)
  2. ナノ機能合成プロジェクト
       横山 浩(産業技術総合研究所)
  3. ナノ高分子プロジェクト
       中濱 精一(産業技術総合研究所)
  4. 文部科学省関連プロジェクト
       小口 伸行(物質・材料研究機構)
  5. 理研プロジェクト
       青野 正和(理化学研究所)
  6. 理研プロジェクトの紹介 ②理研フロンテア研究システム
       丸山 瑛一(理研フロンテア)

第20回研究会「微細技術の最近の話題」

日時:平成13年3月7日(水)
場所:主婦会館 プラザエフ

  1. マイクロマシニングとナノマシニング
       江刺 正喜、小野 崇人(東北大学)
  2. マイクロマシン技術によるDNA分子制御
       鷲津 正夫(京都大学大学院 機械工学専攻)

【未来開拓学術研究推進事業中間発表会】

  1. 極限精度ナノマニピュレータの研究開発中間報告
       プロジェクトリーダー 猪飼 篤(東京工業大学)
  2. 力学測定用原子間力顕微鏡の高精度化
       粉川 良平((株)島津製作所)
  3. 高精度ナノマニピュレータの製作と動作特性
       八木 明(オリンパス光学(株))
  4. 総合討論

第19回研究会「SPMによる表面電気特性の評価」

日時:平成13年1月16日(火)
場所:大阪大学 医学部銀杏会館

  1. 多探針STM等による古典的および量子化された電気伝導の測定
       青野 正和(大阪大学大学院 工学研究科)
  2. ナノプローブSPM
       瀬古口 麻紀、土屋 晶義(松下技研(株))、Cornelius Wuelker(Omicron Vakkumphysik GmbH)
  3. 4探針STMの開発とナノ領域伝導の測定
       長谷川 修司(東京大学大学院 理学系研究科)
  4. 水素終端シリコン表面における原子構造と特性評価
       橋詰 富博、平家 誠嗣、藤森 正成、石橋 雅義、諏訪 雄二、市村 雅彦、小野木 俊之((株)日立製作所 基礎研究所)、一杉 太郎、松浦 志のぶ、渡邉 聡(東京大学 工学部)、Z. Q. Li、大野 かおる、川添 良幸(東北大学 金研)
  5. 量子コンタクトとその量子伝導
       高柳 邦夫(東京工業大学大学院 総合理工学研究科)

第18回研究会「極薄酸化膜のSPM評価」

日時:平成12年11月17日(金)
場所:主婦会館 プラザエフ

  1. Si(100)表面の非接触AFM観察
       菅原 康弘、森田 清三(大阪大学大学院 工学研究科)
  2. STMによるウェット洗浄Si(001)水素終端化表面の原子構造観察
       遠藤 勝義(大阪大学大学院 工学研究科)
  3. Si初期酸化のリアルタイム観察
       三木 一司(電子技術総合研究所)
  4. Si表面の初期酸化過程の理論予測
       加藤 弘一((株)東芝 研究開発センター)、宇田 毅(アトムテクノロジー研究体)
  5. Si表面のlayer-by-layer酸化と局所絶縁劣化のナノプロープによる評価
       渡部 平司(日本電気(株) シリコンシステム研究所)
  6. SiO2/Si(001)界面構造の大規模モデリングと初期酸化過程のシミュレーション
       渡邉 孝信、辰村 光介(早稲田大学 理工学部)、大泊 巌(早稲田大学 各務記念材料技術研究所)
  7. 高電界ストレス印加によるシリコン酸化膜の劣化とウェットエッチング中の表面凹凸変化
       山部 紀久夫(筑波大学 物理工学系)

第17回研究会「カーボンナノチューブ探針」

日時:平成12年9月14日(木)
場所:主婦会館 プラザエフ

  1. カーボンナノチューブ探針モフォロジー
       飯島 澄男(名城大学 理工学部)
  2. カーボンナノチューブ探針の製作とSPM画像特性
       中山 喜萬(大阪府立大学大学院 工学研究科)
  3. 熱CVD直接成長カーボンナノチューブAFM探針による観察、ナノスケール加工とSET、およびフィールドエミッタ
       松本 和彦(電子技術総合研究所)
  4. カーボンナノチューブSPM探針:SEM中操作と化学修飾
       徳本 洋志、清水 哲夫(JRCAT—産業技術融合領域研究所)、崔 奈美(オングストロームテクノロジー研究機構)、内橋 貴之(姫路工業大学)
  5. カーボンナノチューブの先端構造と電界蒸発
       畑 浩一、齋藤 弥八(三重大学 工学部)

第16回研究会「SPMの半導体への応用」

日時:平成12年7月7日(金)
場所:(株)日立製作所 中央研究所

  1. 単一電子メモリの現状と将来
       矢野 和男((株)日立製作所 中央研究所)
  2. 水素終端Si表面初期酸化の大気中AFM/STM観察と分子軌道解析
       奥山 雅則、弓達 新治、金島 岳(大阪大学 基礎工学部)
  3. 水素および窒素によるシリコン表面のパッシベイション
       森田 行則、徳本 洋志(JRCAT—融合研)
  4. 金ナノコンタクトのネック形成、変形過程およぴコンダクタンスの振る舞いについての研究【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演(平成10年度)】
    大西 秀朗(大阪大学超高圧電顕センター)
  5. SPMの理論【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演(平成11年度)】
       塚田 捷(東京大学大学院 理学研究科)

第15回研究会「表面原子・分子ダイナミクス・・・計算物理」

日時:平成12年5月19日(金)
場所:NEC 三田ハウス芝倶楽部

  1. スーパーコンピュータの現状と将来
       岩屋 暁宏(日本電気(株))
  2. 半導体表面のダイマー構造の時空揺らぎ
       中村 美道(東京大学大学院 工学系研究科、科学技術振興事業団)
  3. 水素終端シリコン表面での反応プロセス
       大野 隆央(金属材料技術研究所)
  4. 原子レベルの拡散機構と薄膜モルフォロジー
       押山 淳(筑波大学 物理学系)
  5. STM誘起吸着子ダイナミクス
       笠井 秀明(大阪大学大学院 工学研究科)

第14回研究会「走査型プローブ顕微鏡のロードマップ2000」
(ナノプローブテクノロジー第167委員会 出版記念公開シンポジウム)

日時:平成12年3月3日(金)
場所:主婦会館 プラザエフ

  1. 公開シンポジウム開催にあたって
       ナノプロープテクノロジー第167委員会 委員長 森田 清三

第13回研究会「触媒工学の最先端」

日時:平成12年1月25日(火)
場所:主婦会館 プラザエフ

  1. 最近の自動車排ガス触媒技術
       杉浦 正治((株)豊田中央研究所)
  2. 分子状水素起源のプロトン酸点を活性点とする固体酸触媒
       服部 英(北海道大学 エネルギー先端工学研究センター)
  3. 原子レベルで観る固体触媒の機能
       中村 潤児(筑波大学 物質工学系)
  4. 木炭からの機能性カーボン材料の開発
       今村 祐嗣(京都大学 木質科学研究所)
  5. 固体表面上での触媒反応:計算化学からのアプローチ
       高見 誠一、久保 百司、宮本 明(東北大学大学院 工学研究科)

第12回研究会「半導体への応用(II)」

日時:平成11年11月12日(金)
場所:弘済会館

  1. 走査型振動プロープによるトンネル電流と変位電流の同時分離計測
       真島 豊、岩本 光正(東京工業大学 電子物理工学科)
  2. 近接場光プローブを用いた高分解能OBIRCHおよびOBICによるTiSi配線の解析
       二川 清(日本電気(株) デバイス評価技術研究所)
  3. STM/AFMナノ酸化プロセスによる単一電子デバイス
       松本 和彦(電子技術総合研究所 電子デバイス部)
  4. SCM分析の実際 —何に使え、何が問題か—
       中村 雅一((株)東レリサーチセンター 表面科学研究部)
  5. ナノプローバによる電気特性の測定
       荒牧 浩二、渡辺 修、梅村 馨((株)日立製作所 中央研究所)、三井 泰裕((株)日立製作所 半導体グループ)、長谷川 剛(理化学研究所)

第11回研究会「記録媒体・表示デバイスにおけるSPMの利用」

日時:平成11年9月17日(金)
場所:松下電器産業(株) 技術館

  1. ディスプレイデバイスの現状と展望
       水野 康男(松下電器産業(株))
  2. 記録媒体・表示デバイスのSPM評価の現状
       中村 雅一((株)東レリサーチセンター)
  3. SPMによる超高密度記録の現状と展望
       保坂 純男((株)日立製作所 中央研究所)
  4. 有機EL素子の開発とそのSPMによる評価
       藤平 正道(東京工業大学 生命理工学部)

第10回研究会「SPMの実用技術への応用」

日時:平成11年7月7日(水)
場所:弘済会館

  1. SPMの評価に耐えられる試料作製方法
       畠山 進一((株)三啓)
  2. 実際の分析解析業務におけるSPMの位置付けと解析例およびSPMへの期待
       叶 際平((株)日産アーク)
  3. 広視野かつ高速走査を実現させたSPMとそれによるCMP評価
       村山 健(日立建機(株))
  4. 雰囲気制御型SPMについて
       粉川 良平((株)島津製作所)
  5. 高性能光学顕微鏡とSPMの関わり—光学顕微鏡との一体化によるSPM解析のメリット—
       F. Saurenbach(カールツァイス(株)(SIS社))

第9回研究会「高分子と生体膜表面のナノテクノロジー」

日時:平成11年5月21日(金)
場所:弘済会館

  1. ポリマーキャスト膜の自己組織的凝集構造
       下村 政嗣(北海道大学 電子科学研究所)
  2. フラクタル構造による超撥水/撥油
       恩田 智彦(花王(株) 加工・プロセス開発研究所)
  3. 走査フォース顕微鏡による高分子超薄膜の構造、物性、機能性評価
       高原 淳(九州大学 有機化学基礎研究センター)
  4. 生体膜の動力学・膜透過の計算機シミュレーション
       岡崎 進(東京工業大学大学院 総合理工学研究科)
  5. 組織工学をめざした生体適合性表面の設計
       赤池 敏宏(東京工業大学 生命理工学部)

第8回研究会「近接場光学顕微鏡」

日時:平成11年3月12日(金)
場所:弘済会館

  1. 散乱型近接場光学顕微鏡
       河田 聡(大阪大学大学院 工学研究科)
  2. 微細加工カンチレバーを用いた近接場光学顕微鏡
       山田 啓文(京都大学大学院 工学研究科)
  3. 近接場光学顕微鏡による半導体微細・量子溝造の分光評価
       斎木 敏治(神奈川科学技術アカデミー 光極微機能プロジェクト)
  4. 光エレクトロニクスのパラダイム・シフトとしての近接場光技術
       大津 元一(東京工業大学大学院 総合理工学研究科)
  5. トンネル電子発光による個々のナノ構造の特性評価
       村下 達(NTT フォトニクス研究所)

第7回研究会「ナノテクノロジー」

日時:平成11年1月22日(金)
場所:弘済会館

  1. 私達の生活とナノエレクトロニクス —CDプレーヤーや携帯電話にナノテクノロジーが生きている—
       嶋田 壽一((株)日立製作所)
  2. 究極のナノテクノロジー —ナノ構造の機能と特性を測る新手法—
       青野 正和(大阪大学大学院 工学研究科)
  3. ナノテクノロジー:ブレークスルーへのチャレンジ
       相澤 益男(東京工業大学 生命理工学部)
  4. バイオ分子の形とその働き
       横山 茂之(東京大学大学院 理学系研究科)
  5. 生体物質を調べるマイクロマシン —マイクロ生化学分析システム—
       庄子 習一(早稲田大学 理工学部)

第6回研究会「キャパシタンス顕微鏡、ケルビンフォース顕微鏡、静電気力顕微鏡 —仕事関数、接触電位差、ドーピングプロファイルをキーワードとして—」

日時:平成10年11月27日(金)
場所:弘済会館

  1. 走査型キャパシタンス顕微鏡による半導体ドーパント分布の評価
       中桐 伸行((株)ニコン 第一技術開発部)
  2. 走査型マクスウェル応力顕微鏡による表面電気現象の解析
       横山 浩(電子技術総合研究所)
  3. 非接触走査型力顕微鏡による表面電位計測及びドーパントプロファイル計測への応用
       菊川 敦((株)日立製作所 中央研究所)
  4. FM検出静電気力顕微鏡による半導体表面の電荷の原子レベル観察
       菅原 康弘(大阪大学大学院 工学研究科)
  5. SPMを用いた超高速波形計測
       水原 晃、竹内 恒一郎((株)テラテック)

第5回研究会「ブロープの製作評価」

日時:平成10年10月2日(金)
場所:弘済会館

  1. SPMのブロープ研究の総括
       森田 清三(大阪大学大学院 工学研究科)
  2. ビルドアップ探針とその応用
       富取 正彦(北陸先端科学技術大学院大学 材料科学研究科)
  3. 走査型アトムプロープによる探針評価
       西川 治(金沢工業大学 物質応用工学科)
  4. AFM用マイクロカンチレバーの製作
       戸田 明敏(オリンパス光学工業(株))
  5. AFM共振スペクトルによる接触状態と探針形状の評価
       山中 一司(東北大学)
  6. 「パネル討論」(パネラー:講演者)
       話題提供 「化学修飾探針の展望」 猪飼 篤(京工業大学)
  7. 【会議報告】Micro-processes and Nanotechnology Conf (MNC 7月13日〜16日、Kyoungju)
       荻野 俊郎(NTT 基礎研究所)

第4回研究会「半導体プロセス評価へのSPMの適用と問題—形状評価、標準化」

日時:平成10年7月31日(金)
場所:NEC 三田ハウス芝倶楽部

  1. 作業部会報告
       猪飼 篤(東京工業大学)、森田 清三(大阪大学)
  2. 序論 第2回研究会で提起された問題のまとめ
       荻野 俊郎(NTT 基礎研究所)
  3. ナノデバイス・プロセスにおける原子間力顕微鏡を用いたナノ構造計測
       永瀬 雅夫(NTT 基礎研究所)
  4. Siトレンチ側壁のAFM評価
       八幡 彰博、浦野 聡、井上 智樹、四戸 孝((株)東芝 先端半導体デバイス研究所)
  5. 走査型キャパシタンス顕微鏡による微小領域の半導体不純物分布測定
       峯尾 江利子、久保 真紀、中沢 正敏、杉本 有俊((株)日立製作所 デバイス開発センター)
  6. AFMによる光ディスク表面形状の考察
       加藤 恵三((株)日立製作所 中央研究所)
  7. SPM用校正試料とトレーサビリティー
       関 敏明(VLSIスタンダード(株))
  8. 【会議報告】非接触の原子間力顕微鏡の国際ワークショップ(7月21日?23日、大阪大学)
       森田 清三(大阪大学)

第3回研究会「走査型ブロープ顕微鏡の最近の研究動向—高分子/バイオ分野におけるナノプロープテクノロジー」

日時:平成10年5月22日(金)
場所:学士会館

  1. 有機シラン単分子膜とSPM微細加工
       杉村 博之(名古屋大学大学院 工学研究科)
  2. 原子間力顕微鏡によるDNA研究の目的と現状
       岡田 孝夫(工業技術院 アトムテクノロジー研究体)
  3. 粘着剤のマクロとミクロ
       久保園 達也(日東電工(株) 信頼性評価センター)
  4. 材料強度研究とナノテクノロジー
       岸本 喜久雄(東京工業大学 工学部)
  5. 高分子・生体材料のナノメートルスケールでの力学的性質
       猪飼 篤(東京工業大学 生命理工学部)

第2回研究会「走査型ブロープ顕微鏡の最近の研究動向—電子デバイス・プロセスの現場からの走査型プロープ顕微鏡に望むこと—」

日時:平成10年3月12日(木)
場所:弘済会館

  1. 半導体分野における計測技術のニーズと動向
       三井 泰裕((株)日立製作所 半導体事業部)
  2. シリコンナノデバイス評価から見たSPM技術への期待
       森本 廉、森田 清之、大仲 清司(松下電器産業(株) 中央研究所)、丹羽 正昭(松下電子工業㈱ 半導体事業本部プロセス開発センター)
  3. 半導体プロセスにおけるモニタ技術の課題
       斎藤 修一(日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所)
  4. 超純水洗浄Si表面構造の評価
       臼田 宏治((株)東芝 研究開発センター材料・デバイス研究所)
  5. 汎用的「分析業務」の観点からみたSPMの利用と期待
       鈴木 峰晴(NTTアドバンステクノロジ(株) 材料開発&分析センター)
  6. パネル討論会

第1回研究会「設立総会」

日時:平成10年1月27日(火)
場所:弘済会館

  1. アトムテクノロジープロジェクトの現況
       丸山 瑛一(アトムテクノロジー研究体 プロジェクトリーダー)
  2. 電子・光デバイスとナノテクノロジー
       末松 安晴(高知工科大学学長)
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